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德國Fischer菲希爾測厚儀FMP10 FMP20使用操作手冊和測量方法介紹說(shuō)明
德國Fischer菲希爾測厚儀FMP30 FMP40使用操作手冊和測量方法介紹說(shuō)明
儀器簡(jiǎn)介
FMP30 FMP40是分體式手持鍍層涂層測厚儀,帶線(xiàn)探頭,便攜式涂層鍍層測厚儀,可以測量磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和鋁銅基材上非導電涂層的厚度。根據不同測量要求場(chǎng)合,可以更換使用不同規格功能的探頭進(jìn)行測量。
7 設置儀器和探頭
當儀器開(kāi)機后,會(huì )遇到下面的幾種情況:
1.儀器和連接的探頭已經(jīng)握手,并且有可用的應用程式,屏幕上顯示測量界面。在屏幕上方的測量方法標記沒(méi)有閃爍,
在這種情況下,可以開(kāi)始進(jìn)行測量。
2.儀器沒(méi)有建立過(guò)應用程式。這種情況下,屏幕會(huì )出現“應用程式未打開(kāi)!請按ZERO 打開(kāi)!”,這時(shí)需要建立應用程式。
(見(jiàn)7.1)
3.儀器已有應用程式但不是當前探頭建立的,屏幕上方的測量方法標記“如”會(huì )閃爍,則當前探頭需要重新和主機建立程序。
7.1 建立應用程式
我們儀器為測量所作的設置和參數,和測量獲取的數據一起被保存在一個(gè)文件里,我們定義這個(gè)文件叫---應用程式。
在正常測量前,探頭要和主機連接,并且正確的應用程式已經(jīng)被建立好了。
建立應用程式方法
儀器沒(méi)有建立過(guò)應用程式。這種情況下,屏幕會(huì )出現“應用程式未打開(kāi)!請按ZERO 打開(kāi)!”,
這時(shí)按ZERO 鍵來(lái)建立程序。
選擇正確的底材,將探頭在基材上測量幾次。按 2 次ENTER 鍵確認。應用程式建立完畢!
兩用主機,需要對磁感應和電渦流分別進(jìn)行測量歸零或校準
請用相同材質(zhì)和形狀的加工前工件作底材,形狀或材質(zhì)改變后需要重新歸零/校準!
7.2 指派探頭
FISCHER 公司為滿(mǎn)足不同客戶(hù)各種需要,開(kāi)發(fā)出了不同探頭,我們的主機可以通過(guò)接不
同探頭來(lái)滿(mǎn)足不同情況下的測量需求,這就需要客戶(hù)掌握主機和探頭接觸的方法。
1. 關(guān)閉電源。
2. 接上一個(gè)新探頭。
3. 開(kāi)機
探頭已更換!
按 ZERO 鍵
指派新的探頭
如按 DEL 鍵:開(kāi)始指派新的探頭。
如按 ENTER 鍵: 不指派新探頭,在測量界面上方的測量標記閃爍。
4. 按 DEL 鍵
應用到全部應用程式
如按 DEL 鍵:所有應用程式都會(huì )被指派為新探頭。
如按 ENTER 鍵: 僅指派新探頭給當前應用程式。
7.4 校準
校準是使用標準片和底材對儀器進(jìn)行調校
按 CAL 鍵
『S』:偏差
『n』:測量次數
『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。
在底材上測量 4-5 次。
按 ENTER 鍵
『CAL-rat.1:23.70』: 在此將標準片上的標稱(chēng)值通過(guò)∧、∨鍵輸入主機。
『ENTER: ∧∨』:在測量完標準片后按∧或∨鍵來(lái)輸入標準值。
在底材上放置標準片1(箔1)→進(jìn)行幾次測量
如果做 2 點(diǎn)校準,則標準片由薄到厚
按 ∧,∨ 設置箔片厚度→ENTER(一直按住數字會(huì )快速跳動(dòng))
按2 次ENTER,完成。
8 測量
8.1 選擇應用程式
按 APPL NO 鍵,顯示應用程式選擇界面。
按∧,∨ 選擇需要的應用程式,按ENTER 進(jìn)入。
『APPL No』:應用程式序號。
『n=』:應用程式內的數據個(gè)數。
8.2 調整應用程式
按 MENU 鍵,進(jìn)入應用程式調整界面,選擇所需項目。
按 ENTER 鍵,進(jìn)入菜單。
按 DEL 鍵,不保存設置退出,或按MENU 鍵,保存當前修改并退出。
9 測量統計功能
詳見(jiàn)光盤(pán)內說(shuō)明書(shū)
9.1 刪除讀數
9.1.1 刪除錯誤讀數
在測量界面,按 DEL 鍵可依次刪除當前數據組內的每一個(gè)讀數。
9.1.2 刪除數據組
只能刪除未關(guān)閉的當前數據組。
BLOCK-RES→DEL
9.1.3 刪除全部讀數
FINAL-RES→DEL→DEL
9.2 連續測量模式
連續測量模式下,讀數將不會(huì )自動(dòng)儲存,但按 ENTER 鍵可以?xún)Υ妗?/span>
開(kāi)啟/關(guān)閉連續測量模式
按 鍵可開(kāi)啟/關(guān)閉連續測量模式
連續測量模式開(kāi)啟后,屏幕上會(huì )有標志
型號規格:
鍍層涂層測厚儀 DELTASCOPE FMP10
鍍層涂層測厚儀 ISOSCOPE FMP10
鍍層涂層測厚儀 DUALSCOPE FMP20
鍍層涂層測厚儀 DELTASCOPE FMP30
鍍層涂層測厚儀 ISOSCOPE FMP30
鍍層涂層測厚儀 DUALSCOPE FMP40
測量探頭 FGAB1.3
測量探頭 FTA3.3H
測量探頭 FD10